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杭州高裕電子科技股份有限公司

產品展示

Product Demonstration

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二極管全動態(tài)老化測試系統(tǒng)

符合標準:

MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等試驗標準。

適用范圍:

適用于各種封裝形式的整流二極管全動態(tài)壽命試驗。

技術特點:

50HZ工頻供電,正半波加平均電流,負半波加高壓VR。

每個試驗回路的正向平均電流獨立程序控制。

大電流的二極管采用面板式試驗平臺,散熱效果好。

實時監(jiān)測顯示電流、電壓等試驗參數(shù)。


技術性能

表格 p38.png