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關(guān)于高裕

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可控硅老化測試系統(tǒng)

符合標準:

MIL-STD-750、GJB-128、AEC-Q101等試驗標準。

適用范圍:

適用于各種封裝形式的可控硅（閘流晶體管）壽命試驗（功率循環(huán)）和耐壓試驗。

技術(shù)性能

表格 p28.png

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