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杭州高裕電子科技股份有限公司

產(chǎn)品展示

Product Demonstration

Product Demonstration

產(chǎn)品展示

微波器件高溫壽命老化測(cè)試系統(tǒng)

符合標(biāo)準(zhǔn):

AEC-Q100、MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。

適用范圍:

適用于各種封裝形式的微波功率器件在高溫下的正向壽命試驗(yàn)。

技術(shù)特點(diǎn):

針對(duì)大功率微波器件每顆器件獨(dú)立加熱板溫控。

每顆器件獨(dú)立的Vd、Vg控制,獨(dú)立的Id控制。 

兼容穩(wěn)態(tài)壽命、間歇壽命試驗(yàn) 。


技術(shù)性能

表格 p27.png